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품질 반도체를 위한 3 구역 열 충격 테스트 챔버 공장
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반도체를 위한 3 구역 열 충격 테스트 챔버

Brand Name: ASLI
Model Number: TS-49-C
Place of Origin: 중국
Certification: CE, ISO
Minimum Order Quantity: 1개 세트
Price: negotiable
Supply Ability: 퀄타 당 100개 세트
Delivery Time: 30 평일
Payment Terms: 전신환, 웨스턴 유니온
Standard Packaging: 강하게 합판 상자를 수출하세요

Product Details


내부 차원: W400*H350*D350mm 부피: 49L
온도 범위: -65~150C 온도 회복 시간: 5분 이내
변환 시간: 5S 이내에 제어 정밀도: +/-0.5C
적용: 반도체 종류: 3 구역 타입
강조하다

반도체를 위한 열 충격 테스트 챔버

,

3Zones 열 충격 테스트 챔버

,

49L 환경 실험함

Product Description

3 Zone Thermal Shock Test Chamber For Semiconductor is used to test the bearing extent of the material structures and composite material in an instant and continuous high temperature and extremely low temperature environment, 즉 가장 짧은 시간에 화학적 변화 또는 물리적 손상으로 인한 열 팽창과 수축을 테스트하는 것입니다. 금속, 플라스틱, 고무,전자제품 및 다른 재료로 제품 품질 향상을 위한 중요한 참조로 사용될 수 있습니다..
 
사양
모델
TS-49 ((A~C)
TS-80 ((A~C)
TS-150 (A~C)
TS-252 ((A~C)
TS-450 (A~C)
내부 차원 WxHxD (mm)
400X350X350
500X400X400
600X500X500
700X600X600
800X750X750
외부 차원 WxHxD (mm)
1400X1800X1400
1550X1950X1550
1600X2000X1700
1700X2100X1750
1800X2200X1900
시험 구역의 온도 범위
A형: -40 oC~+150oC
(200oC는 선택적입니다)
B형: -55oC ~ + 150oC
(200oC는 선택 사항입니다)
C 타입: -65oC ~ +150oC
(200oC는 선택적입니다)
높은 온도 시험 구역 범위: +60oC ~ +150oC (200oC는 선택 사항)
테스트 구역의 낮은 온도 범위: -10oC ~ -40oC / -55oC / -65oC
고온/저온 노출 시간
고온 노출 시간: +60oC ~ +150oC (200oC는 선택) 30분
낮은 온도의 노출 시간: -10oC~ 타입 A: -40oC / 타입 B: -55oC / 타입 C: -65oC 30분
열 저장 슬롯의 온도 / 난방 시간
RT ~ 200oC/약 45분
냉각 저장 슬롯의 온도 / 냉각 시간
RT ~- 75oC/ 약 100분
온도 회복 시간 / 변환 시간
≤5분/≤5초
제어 정확성 / 분포 균일성
±0.5oC/±2oC
내부 및 외부 자료
내부 상자의 재료는 SUS 304 # 스테인리스 스틸, 외부 상자의 스테인리스 스틸 또는 페인트와 함께 냉 laminated 스틸 참조
코팅
단열물질
고온 저항성, 고밀도, 포맷 클로린, 에틸 아세트 폼 단열 재료
기계학
P.I. D+S.S. R+ 마이크로 컴퓨터 균형 온도 조절 시스템
냉각 시스템
반허메틱 2단계 압축기 (물 냉각형) /
밀폐된 이중 단계 압축기 (공기 냉각형)
안전 보호 장치
비 피지 차단기, 압축기의 고압 및 저압 보호 스위치, 냉장고 고압 보호 스위치, 고장
경보 시스템, 전자 경보
부속품
보기 창 (특별 주문)
압축기
프랑스 "테큐메스" 브랜드, 독일 비저 브랜드
힘
AC380V 3단계 5선, 50/60Hz
무게 (약)
450kg
600kg
750kg
900kg
1300kg
반도체를 위한 3 구역 열 충격 테스트 챔버

 

반도체 테스트를 위한 3 구역 열 충격 시험실
GB/T 2431.1-2001 시험 A: 낮은 온도 시험 방법
GB/T 2431.2-2001 시험 B: 고온 시험 방법
GJB 150.3-1986: 고온
GJB 150.4-1986: 낮은 온도
IEC68-2-1 시험 A: 냉면
IEC68-2-2 시험 A: 건조
GB 11158 높은 온도와 낮은 온도 시험 기간
GB/T 2423.2 << 전기 제품 기본 환경 시험: B: 고온 방법>>

 


냉각 시스템 및 온도 제어:
1작업 방식: 기계 모델의 크기 선택; 기계 냉각의 캐스케이드; 공기 냉각.
2냉각 압축기: 수입 유명 브랜드 저효율 허메틱 또는 반허메틱 압축기.

3증발기: 핀형 다단계 자동 부하량 조절 증발기.
4콘덴서: 껍질 및 튜브 열 분산 콘덴서.
5시스템 확장: 냉각 시스템 용량 제어 목적
6냉각형 열 교환기: 타이완에서 만든 초고효율의 스테인레스 스틸 판.
7냉각 기계 제어 모드: 제어 시스템 컨트롤러는 전통적인 설계보다 테스트 조건에 따라 냉각 작동 조건을 자동으로 조정합니다.높은 파워의 안정성 및 재생성을 제어하고 효율성을 달성- 다시 공기 압축기 냉각 회로
8냉각기 및 냉각 파이프: R22, R-23, R404A, 환경 보호; 지표는 오존층 감소가 0입니다 냉각기 파이프에는 자동 및 수동 녹기 기능이 있습니다.
포장 및 배달
반도체를 위한 3 구역 열 충격 테스트 챔버
강력하게 무료 접착재 케이스를 수출
회사 프로파일
반도체를 위한 3 구역 열 충격 테스트 챔버
ASLI 회사, 중국의 대표적인 실험실 테스트 장비 제조업체입니다.우리는 전세계 고객들의 신뢰를 얻은 최고 품질의 제품과 서비스를 자랑스럽게 생각합니다..

아래는 우리가 공급하는 장비입니다.
온도 습도 시험실
3 구역 열 충격 시험실
PCT/HAST 노화 시험실
고온 오븐/오븐
고주파 진동 쉐이커
낙하 테스트 기계
기계적 충격 시험 표
소금 스프레이 테스트 챔버
...

우리는 국제 표준과 규격을 충족하는 최고의 장비를 고객에게 제공하기 위해 최선을 다하고 있습니다.우리의 전문가 팀은 우리의 제품이 그들의 내구성을 보장하기 위해 엄격한 품질 보장과 검사 절차를 통과하도록 보장합니다., 신뢰성, 효율성
 
 
반도체에 대한 3 영역 열 충격 테스트 챔버에 대한 의심이나 필요에 대해, 당신의 조사를 보내 주저하지 마십시오.

Product Highlights

3 Zone Thermal Shock Test Chamber For Semiconductor is used to test the bearing extent of the material structures and composite material in an instant and continuous high temperature and extremely low temperature environment, 즉 가장 짧은 시간에 화학적 변화 또는 물리적 손상으로 인한 열 팽창과 수축을 테스트하는 것입니다. 금속, 플라스틱, 고무,전자제품 ...

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